Основи сканувальної електронної мікроскопії
Основи сканувальної електронної мікроскопії – програма, спрямована на наабуття додаткових професійних навичок по виконанню типових задач з використанням сканувальних електронних мікроскопів.
КАТЕГОРІЯ СЛУХАЧІВ: фахівці підприємств, установ та організацій у галузі природничих наук, біології, механічної, електричної, хімічної та біоінженерії, охорони здоров’я, воєнних наук, криміналістики та цивільної безпеки
СПІКЕРИ: провідні науково-педагогічні працівники кафедри оптики фізичного факультету Київського національного університету імені Тараса Шевченка та спеціалісти ТОВ «Новації»
Програма складається з трьох тематичних компонентів:
- Фізичні основи сканувальної електронної мікроскопії
- Теорія та практика роботи в режимах вторинних та пружно відбитих електронів
- Елементний аналіз
ОБСЯГ ПРОГРАМИ: 2 кредити ЄКТС / 60 годин
ФОРМА НАВЧАННЯ: очна
ДОКУМЕНТ: Сертифікат про підвищення кваліфікації
Тривалість | Початок | Вартість | Мова |
14 днів | по мірі формування групи | Українська |
Програма
Реєстрація
Координатор програми: Віта ТИЩЕНКО
Телефони: (044) 521-35-51
Електронна пошта: vpk.ipe@knu.ua; vita.tyshchenko@knu.ua
Відповідальний за реалізацію програми: Сергій ЗЕЛЕНСЬКИЙ, професор кафедри оптики
Електронна пошта: zelensky@knu.ua
